Hohe Auflösung im Nanometerbereich

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Innovative 3D-Mikroskope aus Langenlois erobern den Weltmarkt.

Einen völlig neuen Zusatz, der erstmals eine echte 3D-Darstellung der Nanowelt ermöglicht, hat die GETec Microscopy GmbH in Langenlois für Rasterelektronenmikroskope entwickelt. Das Gerät stößt weltweit auf großes Interesse, berichtet der geschäftsführende Gesellschafter Ernest Fantner.
„Dass wir so gute Kontakte nach China herstellen konnten, verdanken wir nicht zuletzt den Aktivitäten der Wirtschaftskammer Niederösterreich und der zwischen China und Österreich bestehenden Forschungskooperation. Hier sind viele Türen geöffnet und Kooperationen vorbereitet worden“, sagt Fantner. Bei dem von GETech neu entwickelten Zusatz namens AFSEM handelt es sich vom Typ her um ein Rasterkraftmikroskop, das man mit den meisten Elektronenmikroskopen kombinieren kann.

Thermische Analyse im Nanometerbereich
Der besondere Vorteil dieser Entwicklung besteht darin, dass die Proben nicht auf ein anders Mikroskop getauscht werden müssen, sondern zusätzlich zum bereits verwendeten Rasterelektronenmikroskop mit der Zuschaltung des AFSEM in 3D dargestellt werden. Fantner sagt weiter, dass das AFSEM eine fünf- bis zehnmal höhere Auflösung habe und darüber hinaus eine elektrische, magnetische und thermische Analyse mit Auflösung im Nanometerbereich machen könne, was weltweit einzigartig sei.
Produziert wird das AFSEM zusammen mit Partnern in Bulgarien und Kalifornien. Zum Vertrieb kooperiert man mit der Schweizer Firma Nanosurf. Bereits acht solcher Geräte sind schon in Forschungseinrichtungen im Einsatz, zum Beispiel in Berkeley und in Frankfurt. In Österreich werden sie in den Technischen Universitäten Wien und Graz sowie in der Montanuni Leoben verwendet. Obwohl das AFSEM auf den Nanobereich in der Forschung spezialisiert ist, wird es auch schon von einem Automobilhersteller zur Qualitätskontrolle eingesetzt. Für 2017 peilt die GETech Microscopy mit sieben Mitarbeitern einen Umsatz von etwa zwei Millionen Euro an.